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更新时间:2026-08-06
浏览次数:5近期我司推出升级了高精度力学测量领域专业制造商日本共和电业(KYOWA ELECTRONIC INSTRUMENTS CO., LTD.)正式推出KFRB-02N-120-C1箔式应变片。作为KFRB系列中敏感栅尺寸最小的型号,KFRB-02N-120-C1依托聚酰亚胺树脂层状结构与世界小级敏感栅设计两大核心技术,以0.2×0.9mm敏感栅、1.6×1.2mm超紧凑基底、-196~150℃宽温域适用、11/16/23三种线膨胀系数可选等综合性能,成为面向半导体应力分析、纳米级材料研究及微纳器件可靠性评估等对极限微小尺寸应变检测有要求的应用场景的可靠选择。该产品目前深圳仓库有现货供应,可满足客户的快速交付需求。
世界小级敏感栅,突破应变测量极限
KFRB-02N-120-C1的敏感栅尺寸仅0.2×0.9mm。这是KFRB系列中敏感栅尺寸最小的型号,其超小尺寸可精准捕捉微米级区域的应力分布。基底尺寸仅1.6×1.2mm。
聚酰亚胺基底结构,坚固耐用易于操作
KFRB-02N-120-C1采用聚酰亚胺树脂层状结构。应变片元件由耐热性强的聚酰亚胺树脂层状物构成,是坚固且易于使用的应变片。广泛的温度范围更可突显其出色的温度特性。
三种线膨胀系数可选,适配不同被测材料
KFRB-02N-120-C1提供11、16、23三种线膨胀系数选项。用户可根据被测物体的材质选择对应的线膨胀系数型号。
高疲劳寿命与低磁阻效应
KFRB-02N-120-C1的室温下疲劳寿命达1×10⁶次(±1500×10⁻⁶应变时)。电阻元件采用Ni-Cr系合金箔材料,具有低磁阻效应特性。
典型应用场景
KFRB-02N-120-C1广泛应用于极限微小尺寸应变测量领域:在半导体研究中用于先进制程芯片的表面应力分析和可靠性评估;在纳米级材料研究中用于微纳尺度材料的力学性能测试;在微纳器件中用于MEMS/NEMS器件的应力监测和失效分析;在精密电子中用于微型电子元件的极限应力检测。
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