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INTECS英特斯晶圆检测仓库现货检查用照明装置UIH-2D 晶圆检测仓库现货检查用照明装置UIH-2D 一般来说会使用半导体晶圆或玻璃屏等进行目视观察，为了能观测到划痕，尘埃，内部异物以及气泡等，则需要一定的熟练度。而研发本设备的目的，正是为了使此类检查变得更加简易化。将高亮光照射在对象物品（半导体晶圆，玻璃屏，光学部件，透镜等）上，通过所产生的丁达尔现象，可确认划痕，尘埃，内部异物以及气泡等。

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2025-06-08

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INTECS英特斯晶圆检测目视用雾度检查用UIH-3D照明装置晶圆检测目视用雾度检查用UIH-3D照明装置一般来说会使用半导体晶圆或玻璃屏等进行目视观察，为了能观测到划痕，尘埃，内部异物以及气泡等，则需要一定的熟练度。而研发本设备的目的，正是为了使此类检查变得更加简易化。将高亮光照射在对象物品（半导体晶圆，玻璃屏，光学部件，透镜等）上，通过所产生的丁达尔现象，可确认划痕，尘埃，内部异物以及气泡等。

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