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  • YAMADA京都玉崎晶圆缺陷目视用现货高亮度卤素射灯YP-150I
    YAMADA京都玉崎晶圆缺陷目视用现货高亮度卤素射灯YP-150I 晶圆缺陷目视用现货高亮度卤素射灯YP-150I 高强度卤素光源装置 是一种宏观观察照明装置,用于检测 最终成品表面上的各种缺陷,如异物、划痕、抛光不均匀、雾霾、滑移等,是工件加工过程中劳动强度最大的部分。半导体晶片和液晶基板
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  • YAMADA京都玉崎光学检测YP-250I目视用雾度检查装置 现货
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  • YAMADA京都玉崎光学检测目视用雾度检查装置YP-150I现货
    YAMADA京都玉崎光学检测目视用雾度检查装置YP-150I现货 光学检测目视用雾度检查装置YP-150I现货 高强度卤素光源装置 是一种宏观观察照明装置,用于检测 最终成品表面上的各种缺陷,如异物、划痕、抛光不均匀、雾霾、滑移等,是工件加工过程中劳动强度最大的部分。半导体晶片和液晶基板
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  • YAMADA京都玉崎光学检测目视用YP-250ID雾度检查装置现货
    YAMADA京都玉崎光学检测目视用YP-250ID雾度检查装置现货 光学检测目视用YP-250ID雾度检查装置现货 高强度卤素光源装置 是一种宏观观察照明装置,用于检测 最终成品表面上的各种缺陷,如异物、划痕、抛光不均匀、雾霾、滑移等,是工件加工过程中劳动强度最大的部分。半导体晶片和液晶基板
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  • YAMADA京都玉崎光学检测目视用YP-150ID雾度检查装置现货
    YAMADA京都玉崎光学检测目视用YP-150ID雾度检查装置现货 光学检测目视用YP-150ID雾度检查装置现货 高强度卤素光源装置 是一种宏观观察照明装置,用于检测 最终成品表面上的各种缺陷,如异物、划痕、抛光不均匀、雾霾、滑移等,是工件加工过程中劳动强度最大的部分。半导体晶片和液晶基板
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  • INTECS英特斯晶圆检测目视用UIH-1C雾度检查照明装置现货
    INTECS英特斯晶圆检测目视用UIH-1C雾度检查照明装置现货 晶圆检测目视用UIH-1C雾度检查照明装置现货 一般来说会使用半导体晶圆或玻璃屏等进行目视观察,为了能观测到划痕,尘埃,内部异物以及气泡等,则需要一定的熟练度。而研发本设备的目的,正是为了使此类检查变得更加简易化。 将高亮光照射在对象物品(半导体晶圆,玻璃屏,光学部件,透镜等)上,通过所产生的丁达尔现象,可确认划痕,尘埃,内部异物以及气泡等。
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