现货！日本滨松光子正式发布WS系列微型光谱仪上新

现货！滨松光子正式发布WS系列微型光谱仪，以反射光栅与高灵敏度CMOS赋能紫外至近红外光谱分析

光电子领域专业制造商滨松光子学株式会社（Hamamatsu Photonics）正式推出WS系列微型光谱仪。作为滨松光谱仪产品线中的全新系列，WS系列依托反射光栅光学系统与高灵敏度CMOS图像传感器两大核心技术，以80×75×25mm轻量化外壳、190～1100nm宽光谱覆盖（C16449MA-01）、1.0nm光谱分辨率等综合性能，成为面向膜厚测定、LIBS分析、颜色测定及气体分析等对小型化与高性能光谱检测有要求的应用场景的可靠选择。该产品目前深圳仓库有现货供应，可满足客户的快速交付需求。

反射光栅光学系统，实现小型化与高性能兼顾

WS系列微型光谱仪的核心技术特征在于反射光栅光学系统设计。与传统透射光栅光谱仪相比，反射光栅在小型化封装中实现了更高的光通量和更宽的光谱覆盖范围。光栅设计允许根据客户要求定制波长范围和分辨率，支持针对具体用途的优化。

两种型号，覆盖宽光谱与高分辨率需求

WS系列提供两种型号，分别针对宽光谱覆盖和高分辨率分析优化：

C16449MA-01覆盖从紫外至近红外的宽光谱范围，适用于材料分析、质量控制和科学调查研究等多个行业。C16449MA-02针对高光谱分辨率优化，特别适合LIBS（激光诱导击穿光谱）分析和其他对光谱细节要求较高的高级分析用途。

高灵敏度CMOS传感器与USB总线供电

WS系列集成高灵敏度CMOS图像传感器，性能相当于CCD，在小型化封装中实现了高信噪比。器件配备触发器和电子快门功能，支持外部触发同步采集。采用USB总线供电，无需外部电源，即插即用。

典型应用场景

WS系列广泛应用于光谱分析与工业检测领域：在涂层和薄膜的膜厚测定中用于监测薄膜和涂层质量；在LIBS分析中C16449MA-02的高分辨率支持详细的材料表征；在颜色测定中用于制造和研发过程中的色调测量；在环境监测和气体分析中用于高精度检测和表征气体。

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