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标题:切割样品缺陷评估装置 朝日测器 ALTIS-RP
产品概述
切割样品缺陷评估装置 朝日测器 ALTIS-RP
切割样品缺陷评估装置 朝日测器 ALTIS-RP
产品介绍:
使用分辨率为 15 μm 的缺陷图可以轻松校准和验证切割样品的表面缺陷的评估和检查。
它可以作为离线表面缺陷校准的专家设备,这对于质量评估至关重要。
该设备是必须由用户安装和连接的设备。只需
将检测设备和 PC 放置在水平桌面上,并
用两根电缆连接检测设备和 PC 即可完成安装。
采用光转换相机链路延长器方法,可以使用单根光纤连接探测器和信号处理。
配备数字高性能计算单元,还可以检测仅限于目视检查的缺陷。
二维数字计算功能提供目视检查的检查能力。
这是将超高速摄像机、根据检查对象的专用照明、高速数字运算芯片、计算机等技术系统化而开发的高精度、高速检查系统。

扫描切割样品并检测缺陷。 测试结果可以在下面的四个屏幕上确认。





您可以使用与测试时相同的屏幕配置来检查过去测试的数据。
您可以从过去的测试结果中选择任何数据,并将其以 CSV 格式保存到 USB 存储器。




您可以在与测试时相同的四个屏幕上检查过去的测试结果。

可以调出缺陷图像的浓度测量屏幕。
在密度测量屏幕上,您可以分析缺陷的灰度等级和尺寸。

最多可注册100个品种。
可以为每种产品类型注册检测灵敏度和尺寸等各种设置。 开始检查时,只需选择注册的产品类型,就会设置适当的检查条件。

*启动设备时,每个屏幕上显示的语言可以从日语、韩语和英语中选择。
可以使用波形监视器功能来调整检测器(摄像机/发射器)。
| 解决 | 宽度方向10μm×长度方向10μm |
|---|---|
| 相机 | C-MOS线传感器相机(单色)16384像素/680MHz |
| 泛光灯 | LED线照明(从下面选择) ・ALTIS-RP(反射/透射) ・ALTIS-R(反射) ・ALTIS-P(透射) |
| 样本量 | 尺寸:210mm x 297mm(A4 尺寸) 厚度:0.05mm ~ 最大 1.0mm |
| 检测判断 | 明/暗渐变、宽度/长度/面积 |
| 移动速度 | 工作台移动速度 6 m/min。 |
| 检验时间 | 约15秒(每张) |
| 检验范围 | 拍摄范围:160 mm x 230 mm *请联系我们了解检查尺寸(定制设计) |
| 电源 | AC100~220V 50/60Hz |
| 个人电脑 | CPU:Intel Core i7 3.4GHz |
关于我们
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